B&W NAUTILUS 803

[ Pobierz całość w formacie PDF ]

rys.1
rys.1
rys.
rys.
rys.
rys.
pomina charakterystykę zespołu dwudroż- 803 w zakresie średnich i wysokich tonów (rys.
3.
3.). Liniowość i kierunkowość (w płaszczyznie po-
nego, a nie trójdrożnego, gdyż filtry prawie w ogó- 3.
3.
3.
O
O
O
O
le nie sygnalizują podziału między niskotonowymi ziomej) są fantastyczne, charakterystykę z osi 15O
a średniotonowym. Bass-reflex dostrojono bardzo można zmieścić w polu +/-1,5dB. Najmniejszego
nisko, do ok. 23Hz. śladu drugiej częstotliwości podziału. Ze względu
Pomiar w polu bliskim pokazuje działanie zró- na przyjęty podział konstrukcyjny na sekcję nisko-
deł niskich częstotliwości - obydwu głośników nis- tonową i średnio-wysokotonową, zasilanie po-
rys. 2.
kotonowych i wspólnego otworu. Na rys. 2. szczególnych gniazd pozwoliło pokazać tylko
rys. 2. widać
rys. 2.
rys. 2.
ponadto krzywą ilustrującą sumę ciśnień od oby- przecięcie charakterystyk przy pierwszej częstotli-
rys. 3a
rys. 3a). Zarówno głośniki nisko-
dwu głośników, i charakterystykę wypadkową, po wości podziału (rys. 3a
rys. 3a
rys. 3a
dodaniu ciśnienia z otworu. Zacznijmy od głośni- tonowe, jak i średniotonowy tłumione są filtrami 2.
ków. Wydaje się, że w okolicach częstotliwości rzędu; przy 2,8kHz widać rezonans membran
rezonansowej obudowy mają różne charakterys- głośników niskotonowych, nie mający jednak żad-
tyki - na głośniku dolnym nie zaznacza się mini- nego znaczenia, ze względu na ponad 20-dB od-
mum amplitudy. Jest to spowodowane warunkami stęp od poziomu głośnika średniotonowego w tym
pomiaru - blisko dolnego głośnika znajduje się zakresie.
otwór, i mimo pomiaru w polu bliskim wpływa on w Wreszcie całościowa charakterystyka prze-
ten sposób na wynik pomiaru. Dalej kalkulowana twarzania, ostatecznie potwierdzająca doskonałą
rys.4
rys.4).
rys.4
rys.4
suma ciśnień od głośników, jak i ostateczna cha- liniowość tych kolumn (rys.4 Szerokie pasmo
rakterystyka wypadkowa będą obciążone tym błę- 50-20000Hz można zmieścić w polu +/-1,5dB (da-
dem, choć nie w stopniu uniemożliwiającym wy- rowując mały ząbek przy ok. 17kHz); punkt -9dB,
ciągnięcie ogólnych, najważniejszych wniosków. do którego można spodziewać się pełnej efektyw-
Maksimum ciśnienia z otworu przypada dokładnie ności przetwarzania w średniej wielkości po-
na częstotliwość rezonansową, ale poziom jest mieszczeniu zamkniętym, wypada przy ok. 25Hz.
dość niski, więc nie ma szansy na rozciągnięcie Jest to najlepszy zestaw pomiarów, jaki udało się
pełnej efektywności aż do 20Hz, natomiast uzys- dotąd uzyskać w naszym głośnikowym laborato-
kujemy bardzo łagodny spadek charakterystyki rium.
Rys. 3 - pomiar przetwarzania w zakresie 200Hz
Rys. 3 - pomiar przetwarzania w zakresie 200Hz
Rys. 3 - pomiar przetwarzania w zakresie 200Hz
Rys. 3 - pomiar przetwarzania w zakresie 200Hz
Rys. 3 - pomiar przetwarzania w zakresie 200Hz
-20kHz, metodą MLS z odl. 1m, na osi głównej i pod
-20kHz, metodą MLS z odl. 1m, na osi głównej i pod
-20kHz, metodą MLS z odl. 1m, na osi głównej i pod
-20kHz, metodą MLS z odl. 1m, na osi głównej i pod
-20kHz, metodą MLS z odl. 1m, na osi głównej i pod
Rys. 1. Charakterystyka impedancji
kątami 150O i 30O w płaszczyznie poziomej
kątami 150O i 30O w płaszczyznie poziomej
kątami 150O i 30O w płaszczyznie poziomej
kątami 150O i 30O w płaszczyznie poziomej
kątami 150O i 30O w płaszczyznie poziomej
ys. 2 - pomiar zródeł niskich
Rys. 2 - pomiar zródeł niskich
ys. 2 - pomiar zródeł niskich
ys. 2 - pomiar zródeł niskich
ys. 2 - pomiar zródeł niskich
Rys. 3a - niezależne charakterystyki sekcji
Rys. 3a - niezależne charakterystyki sekcji
Rys. 3a - niezależne charakterystyki sekcji
Rys. 3a - niezależne charakterystyki sekcji
Rys. 3a - niezależne charakterystyki sekcji
częstotliwości sinusoidą w polu bliskim
częstotliwości sinusoidą w polu bliskim
częstotliwości sinusoidą w polu bliskim
częstotliwości sinusoidą w polu bliskim
częstotliwości sinusoidą w polu bliskim
niskotonowej i średnio-wysokotonowej,
niskotonowej i średnio-wysokotonowej,
niskotonowej i średnio-wysokotonowej,
niskotonowej i średnio-wysokotonowej,
niskotonowej i średnio-wysokotonowej,
tylko na osi głównej
tylko na osi głównej
tylko na osi głównej
tylko na osi głównej
tylko na osi głównej
100
95
90
85
80
75
70
65
60
10 100 1000 10000 100000
Częstotliwość w Hz
Rys. 4 - charakterystyka przetwarzania złożona z pomiarów sinusoidą i MLS
Rys. 4 - charakterystyka przetwarzania złożona z pomiarów sinusoidą i MLS
Rys. 4 - charakterystyka przetwarzania złożona z pomiarów sinusoidą i MLS
Rys. 4 - charakterystyka przetwarzania złożona z pomiarów sinusoidą i MLS
Rys. 4 - charakterystyka przetwarzania złożona z pomiarów sinusoidą i MLS
Uwaga:
Uwaga:
Uwaga:
Uwaga:
Uwaga:
rys.2.
Charakterystyka zdjęta w polu bliskim (rys.2.) jest wiarygodna tylko dla częstotliwości poniżej 200Hz.
rys.2.
rys.2.
rys.2.
AUDIO 3/2000 75
Amplituda w dB [ Pobierz całość w formacie PDF ]

Pokrewne